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“一種用于二代證的檢測方法及其設(shè)備”日前獲得國家發(fā)明專利，發(fā)明人為王立建、馮敬、袁理、王強(qiáng)、王昆等。 專利號為ZL2006 1 0089779.4。專利權(quán)人為中國電子技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化研究所和北京同方微電子有限公司。
    隨著我國第二代居民身份證項(xiàng)目的全面啟動，大量的第二代居民身份證面臨著一個檢測標(biāo)定的問題。為了保證二代證產(chǎn)品的質(zhì)量，克服現(xiàn)有檢測設(shè)備技術(shù)上的不足，通過技術(shù)攻關(guān)，研制了一種使用方面、檢測精確的用于第二代居民身份證的檢測方法及其設(shè)備。該設(shè)備能通過對磁場強(qiáng)度、載波頻率、調(diào)制深度大小的調(diào)整實(shí)現(xiàn)對第二代居民身份證的電性能檢測。同時亦可用于非接觸式IC卡的性能分析與標(biāo)準(zhǔn)符合性測試